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颗粒形状简称粒形，目前表征粒形大多对其投影面的外形轮廓线进行测量和研究，包括轮廓线外形及其粗糙度等，所用 的手段都是具有图像分析功能的显微颗粒图像粒度粒形分析系 统。
粒形研究常见的是对一些特殊形状颗粒的表征，如粒状颗粒的的圆形度、长条状颗粒的长径比、片状颗粒的径厚比等。 他们都是要先拍摄显微图像，然后通过专用软件进行分析得到 的。具体分析方法是：（1）圆形度：与颗粒面积相等的圆的周 长除以颗粒的实际周长（另外还有“周长等效直径除以面积等 效直径”等不同算法）。但不管哪种算法，都是数值越接近 1的颗粒圆形度越好，数值越远离 1 的颗粒圆形度越不好。（2） 长径比：颗粒外接矩形的长度与颗粒的平均宽度之比。（3）径厚比：颗粒的等面积圆直径与厚度之比。
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