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该光机测量系统非常准确，能以0.6 纳米的高分辨率测量zui精细表面的粗糙度，测量行程宽度为 24 毫米，并且探测长度为 200 毫米。即使在zui小的公差下，它也能可靠地进行测量。正因如此，该系统广泛用于各种需要zui高精密度的应用场合，例如制造滑动轴承、滚动轴承和滚珠轴承。
nanoscan 与向上/向下测量相结合，可以用于执行范围广泛的测量任务：
测量哥特式弧形
曲面的粗糙度测量
min小粗糙度公差的测量
圆锥角测量：得益于向上/向下测量，可以用zui高精度测量jue对圆锥角
使用软件中的强大评估选项比较目标/实际形状
测量运行基本上是自动化的。系统会检测正在使用哪个探臂，并相应地自动设置测量条件。探臂以磁力连接到测量仪。这意味着可以快速地更换探臂。业纳可以为每个测量任务提供合适的探臂。还可以轻松扩展测量系统，以便根据您的个人需求准确定制。
nanoscan 855 甚至采用粗糙度轮廓度一体式传感器，这使它非常适合执行表面测量领域的所有测量任务。该测量仪可节省时间，且具有成本效益。
技术参数
Z 轴测量范围/分辨率： 24 毫米/0.6 纳米或 48 毫米/1.2 纳米
测量原理： 光机测量系统、触觉测量
探测力： 可以用电子方式调节
探测方向： 向上/向下
扫描单元测量范围/分辨率： 200 毫米/10 纳米
直线度： ≤ 0.4 微米/200 毫米
