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Hommel-Etamic surfscan 是通用的粗糙度和轮廓测量系统，便于您进行质量控制。使用该光机探测系统，您可以在一次运行中测量工件的粗糙度和轮廓。所有特性均清晰地显示在报告中。
在整个测量范围中以 6 纳米的高分辨率测量，因此能可靠地测量精细表面的粗糙度，还可以测量关键轮廓特性。
得益于可以快速地更换的智能探臂，可以毫无问题地执行其他测量任务。内置的 RFID 芯片确保探臂自动分配给测量程序。
测量系统采用模块化设计，使您可以根据自己的确切需求来定制测量站。如有必要，可以使用其他探测系统扩展 测量系统 - 例如为了增加轮廓测量范围，或为了进行特定的粗糙度测量。
